台式火花直读光谱仪

　　台式火花直读光谱仪可用于分析所有主要合金元素，并识别金属中含量低的杂质、痕量元素和处理元素，如钢中的氮。OE750的测量速度快、可靠性高且运营成本低，可进行高性价比的日常分析和全面质量控制，其性能可与更大、更贵的光谱仪媲美。广泛应用于金属材料的成分分析。
　　通过样品在高温激发下发出的光谱特征来确定样品中元素的种类和含量。这种设备通常具备快速分析能力，能够在极短的时间内完成金属元素的光谱分析，显著提高工作效率。其高精度的分析结果适用于对成分要求严格的行业，如航空航天、汽车制造和高端冶金等领域。
　　设计通常注重用户体验和实际操作的便捷性。例如，FOUNDRY-MASTER Smart型号具有非常紧凑的尺寸，重量轻，便于携带和操作，同时提供了高分析性能。它的开放式火花台设计适合各种形状和尺寸的样品分析，且具备自动光路校准功能，确保分析的准确性不受温度漂移影响。这种光谱仪的光学系统通常采用先进的CCD数码技术，实现分析光谱的全谱直读，结合特殊的激发光源，为金属材料的成分分析提供了新的解决方案。

　　为什么选择OE750?
　　1.值得信赖的结果在同类产品中控制杂质和痕量元素的光学分辨率好。
　　2.综合成本低负担得起的购买和运行成本，提供更贵分析仪器所具备的性能。
　　3.保持运行不间断设计可靠，维护和标准化要求极低。
　　4.支持连续生产分析速度快，启动时间短，可快速反馈熔液质量。
　　只需一台价格合理的OE750设备，就能提供快速全面的金属质量分析，满足您所有的需求。

　　技术参数：
　　Spectrometer Optical System光谱仪光学系统
　　-Paschen/Runge mounting Multi-CMOS optics采用帕邢-龙格装置多块CMOS光学系统
　　-Diameter Rowland circle:400 mm.罗兰圆直径：400 mm
　　-Effective wavelength 119–766nm.波长范围：119–766nm.
　　-Pixel resolution 7 pm.像素分辨率：7 pm
　　Spark Source火花源
　　-High energy pre-spark(HEPS)高能预燃技术(HEPS)
　　-Computer controlled parameters计算机调节参数
　　-Frequency 80–1000 Hz频率80–1000 Hz
　　-Voltage 250–500 V电压250–500 V
　　Computer and readout system(external PC)计算机及读出系统（笔记本电脑，台式电脑可选）
　　-Intel(R)i3-7100U英特尔i3处理器
　　-Windows 10 operating systems Windows 10操作系统旗舰版
　　-Min.2.40 GHz and 4 GB Ram主频2.40GHz内存4.00GB
　　-AMD Radeon R5 M330显卡
　　-Hard disk硬盘容量500GB
　　-CD-burner CD烧录功能
　　-Fire-Wire,LAN Ethernet防火墙，局域网
　　-Parallel interface并口
　　-Serial(RS 232)Interface系列RS232接口
　　-2 USB Interfaces,2个USB接口，
　　-VGA Video port视频输出功能
　　-Battery life 5 hours电池续航时间5个小时
　　-External,14.1“TFT-LCD–Display 14.1“液晶显示器
　　-Resolution 1280*800分辨率1280*800
　　-Weight 1.94Kg重量1.94千克